Mit mondanak a határfelületi rétegek rezgései, ha korszerû módszerekkel kérdezünk?Mink János1,2 és Keresztury Gábor3
1MTA Kémiai Kutatóközpont, Izotóp- és Felületkémiai Intézet, H-1525 Budapest
2Veszprémi Egyetem, Analitikai Kémia Tanszék, H-8201 Veszprém
3MTA Kémiai Kutatóközpont, Kémiai Intézet, H-1525 Budapest
A modern anyagtudományban különleges jelentõséggel bír a határfelületi rétegekben található anyagok kémiai szerkezetének felderítése, amelyhez a rezgési spektroszkópia számos megközelítési módot kínál. Az elõadásban saját gyakorlatból, illetve szakirodalomi forrásokból vett példák segítségével rövid áttekintést adunk a ma leggyakrabban alkalmazott infravörös és Raman spektroszkópiai mérési technikákról, amelyek a minta felépítése és a mérési módszer optikai jellegzetességeitõl függõen eltérõ érzékenységet mutatnak a különbözõ vastagságú vékonyrétegek, illetve optikailag vastag (opak) minták határfelületén kialakuló molekuláris rétegek iránt.
A már hagyományosnak tekinthetõ FT-IR reflexiós-abszorpciós, gyengített totálreflexiós (ATR, FMIR) és diffúz reflexiós, valamint egyszerû Raman-spektroszkópiai technikák mellett számba vesszük az IR emissziós, fotoakusztikus, továbbá IR és Raman mikroszkópiai mérések nyújtotta lehetõségeket is. A legújabb nemlineáris lézerspektroszkópiai módszerek közül felhívjuk a figyelmet a sajátos szabályok szerint kiválasztott rezgési átmeneteket vizsgáló, többnyire csak határfelületi, orientált molekulákra érzékeny, ún. összegfrekvencia-generálási (sum frequency generation, SFG) spektroszkópia módszerére.
Vissza